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產(chǎn)品分類

產(chǎn)品詳情

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產(chǎn)品名稱：Hysitron PI 89掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀
產(chǎn)品型號：
產(chǎn)品廠商：德國布魯克BRUKER
產(chǎn)品文檔：

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簡單介紹：

Hysitron PI 89掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀的緊湊設(shè)計允許*大的樣品臺傾斜，以及測試時成像的*小工作距離。Hysitron PI 89掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀為研究者提供了比競爭產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能。

詳情介紹：

無以倫比的控制和性能，具有固有的位移控制，位移范圍從<1nm to 150μm，業(yè)界**的力范圍從<1μN to 3.5N，和78kHz的反饋速率和39kHz的數(shù)據(jù)采集速率，從而記錄各種瞬態(tài)事件。
**樣品臺技術(shù)，通過一個線性編碼器和兩種旋轉(zhuǎn)/傾斜臺配置實現(xiàn)可靠的和可重復(fù)的準確樣品定位、性質(zhì)成像、原位FIB加工和包括EBSD, EDS, BSE, and TKD在內(nèi)的分析成像。
多功能，模塊化設(shè)計，支持幾乎所有的原位測試技術(shù)和選項，包括高溫、納米摩擦、電表征、納米動態(tài)力學(xué)、壓轉(zhuǎn)拉測試、直接拉伸、高應(yīng)變率測試和掃描探針原位成像等。

Hysitron PI 89掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的**成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker **的電容傳感技術(shù)，繼承了**市場的**批商業(yè)化原位 SEM 納米力學(xué)平臺的優(yōu)良功能。該系統(tǒng)可實現(xiàn)包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態(tài)測試和力學(xué)性能成像等功能。

先進性能和功能

Hysitron PI 89掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀的緊湊設(shè)計允許*大的樣品臺傾斜，以及測試時成像的*小工作距離。Hysitron PI 89掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀為研究者提供了比競爭產(chǎn)品更廣闊的適用性和性能：

重新設(shè)計的結(jié)構(gòu)增加適用性和易用性
1 nm精度的線性編碼器實現(xiàn)更大范圍下更好的自動測試定位重復(fù)性
更高的框架剛度(~0.9 x 106 N/m)提供測試過程更好的穩(wěn)定性
兩種旋轉(zhuǎn)/傾斜模式實現(xiàn)城鄉(xiāng)、FIB加工、以及各種探測器的聯(lián)用，包括EDS, CBD, EBSD, and TKD等。